测试技术是支撑高端制造、人工智能、航空航天、集成电路、量子科技、生物医药等前沿领域发展的基础性、先导性技术，正深度融入国家“十五五”科技创新体系。作为连接科学研究、工程实现与产业应用的关键纽带，测试技术在夯实科技创新基础、保障制造质量、破解产业短板、驱动智能化转型中发挥重要作用，其创新突破对构建现代化产业体系、保障产业链供应链安全、发展新质生产力具有重大意义。

征稿信息

2026未来测试技术发展学术会议（详见：关于召开2026未来测试技术发展学术会议的通知）将同步开展专题论文征集工作，将择优在《电子测量与仪器学报》（EI、北大核心、CSCD核心、卓越期刊计划领军期刊）和《电子测量技术》(北大核心、科技核心)以专题形式进行发表。两刊特邀桂林电子科技大学许川佩教授担任专题主编，桂林电子科技大学胡聪教授担任专题副主编，诚邀高校、科研院所、企业等专家学者分享前瞻性研究成果。两刊论文提交截止日期：2026年7月31日（之后投稿的高水平论文将根据情况安排其他排期）；专题出版日期：2026年10月31日。

（一）《电子测量与仪器学报》

以“未来测试技术”为专题，涵盖主题不限于：

智能测试技术；

大数据与测试分析；

集成电路智能测试；

量子测试技术；

分布式测试；

智能仪器设计；

故障诊断与预测；

智能制造与无人系统测试；

智能传感与非电量测试。

征稿方式：《电子测量与仪器学报》官网注册登录投稿，选择“未来测试技术”栏目，网址：http://jemi.etmchina.com，邮箱：dzclxb@163.com。

（二）《电子测量技术》

以“人工智能赋能未来电子测试技术”为专题，涵盖主题不限于：

智能仪器与嵌入式AI测量；

智能测试系统与故障诊断；

智能信号处理与机器学习算法；

智能制造与工业互联网测试；

AI硬件测试与验证；

未来通信测试；

硬件安全与可信测试；

量子精密测量技术；

人工智能时代的计量与标准化。

征稿方式:《电子测量技术》官网注册登录投稿，选择“人工智能赋能未来电子测试技术”栏目，网址：https://emt.etmchina.com，邮箱：dzcl@vip.163.com。

专题主编