“未来测试技术”专题征稿通知

未来测试技术（Future Testing Technology, FTT）指面向复杂系统、多模态场景及动态环境测试需求，融合新型传感、通信、计算机、人工智能等跨领域技术、跨学科融合形成的下一代测试技术体系。在科技快速发展的背景下，测试技术通过与新兴技术深度融合，不断创新与演进，实现更高精度、更强功能、更广覆盖范围和更高效能的测试方法与体系。其核心目标是通过智能化、自动化和网络化手段，突破传统测试技术的局限，满足复杂场景下的多维度、实时化及动态参数测试需求。随着人工智能、智能制造、量子计算等前沿技术的加速突破，未来测试技术作为保障系统可靠性、优化产品性能及推动技术落地的核心支撑，正面临关键机遇。为聚焦"未来测试技术"的创新发展路径，《电子测量与仪器学报》特邀电子科技大学赵贻玖教授担任专题主编，电子科技大学肖寅东教授担任专题副主编，特别策划了“未来测试技术”专题，诚邀科研院所、企业技术团队及行业专家分享前瞻性研究成果与实践经验。

专题稿件涵盖主题可涉及以下相关方向（但不限于）：

l智能测试技术

l大数据与测试分析

l集成电路智能测试

l量子测试技术

l分布式测试

l智能仪器设计

l故障诊断与预测

l智能制造与无人系统测试

l智能传感与非电量测试

本专题计划于2025年6月30日出版。除纸质期刊的出版渠道外，编辑部还将通过多渠道在业界科研工作者和广大读者中进行宣传征稿，同时为本专题进行微信推送和网站集中征稿，扩大栏目的影响力。

《电子测量与仪器学报》是由中国科协主管，中国电子学会主办，国内外公开发行的国家级学术刊物。重点刊载以电子测量与仪器领域的科研新成果，发展新趋势，理论研究的新方法，新型器件的应用，新技术的推广等为核心内容的学术论文，并有针对性地邀请有关专家学者发表综述和评论性文章。目前，《电子测量与仪器学报》为北大图书馆《中文核心期刊要目总览》核心期刊、中国精品科技期刊、“中国科技核心期刊”、“中国科学引文数据库（CSCD）核心期刊”以及“中国科技期刊卓越行动计划”领军期刊，并入选Scopus等知名数据库。

一、论文要求

(1) 内容要求：论文应未在国内外刊物或会议上公开发表。论文达到国内外先进水平，内容丰富，对同行有较高的参考价值。（参见本刊官网下载专区的投稿须知）

(2) 格式要求：word排版，符合《电子测量与仪器学报》中文版格式要求。（参见本刊官网下载专区投稿须知中的论文模板），正文不少于7页，参考文献不少于20条。

二、论文提交

请登录网站http://jemi.etmchina.com，注册用户，按步骤进行操作即可。

三、特别提示

在投稿系统的拟投拦目中选择：“未来测试技术” 专栏，编辑部将为本栏目约请稿件开通绿色通道，加急送审和处理流程，保障论文的时效性。

全文提交截止日期：2025年4月30日（之后投稿的优秀论文将根据情况安排其他排期）

联系人：

安亚兰、王丹   

Tel：010-53389339  64044400

E-mail：jemi@vip.163.com  dzclxb@163.com

感谢您对《电子测量与仪器学报》的热心关注与鼎力支持！

希望领域内的专家学者积极投稿！