2020 第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议征稿通知(ISTAI’2020)
由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学联合主办的“2020 第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议”将于 2020年11月举办。会议
旨在为自动化测试与仪器领域的专家学者、科研人员、技术工程师搭建了解测试测量领域国际前沿技术的平台,会议主题:“智慧感知、
共享决策、智能控制、个性服务”,以信息化、智能化助推自动化技术发展,研讨面向工业 4.0 和互联网+的新一代智能测控技术,增强国
内学术界、产业界同国际同行间的交流和合作。届时来自世界各地的代表们将欢聚一堂,探讨本领域科技创新、行业发展趋势、热点技
术应用、交流学术成果,增进相互间的了解和沟通。
大会热忱欢迎广大同行踊跃投稿,参会交流,并面向以下 10 个专题征集学术论文。会议论文集将收录在英国工程技术学会 IET Digital
Library。发表在 IET Digital Library 和 IEEE Xplore 两个平台上,EI检索。
在此,我们诚挚地邀请您,踊跃投稿并出席此届会议,与世界各地同仁交流国际化测试和仪器仪表技术的最新成果。
一. 会议组织机构
主办单位: 中国仪器仪表学会
北京信息科技大学
承办单位:中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会
现代测控技术教育部重点实验室
高动态导航技术北京市重点实验室
机电系统测控北京市重点实验室
传感器北京市重点实验室
高端装备智能感知与控制
北京市国际科技合作基地
协办单位:《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、INSTRUMENTATION
三. 会议语言:英语
四. 投稿须知:
1. 请登陆网站使用投稿系统,并通过您的账户随时查看论文状态。
2. 论文请参照 www.istai.org.cn 网站上提供的格式要求排版。
3. 投稿时请提交论文的 MS Word 版本。
4. 作者单位对论文进行保密审查,作者本人应保证来稿的原创性。所有来稿文责自负。
5. 版权声明: 论文一经提交,即表示作者无条件同意会议主办方拥有版权。