2020 第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议征稿通知（ISTAI’2020）

由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学联合主办的“2020 第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议”将于 2020年11月举办。会议

旨在为自动化测试与仪器领域的专家学者、科研人员、技术工程师搭建了解测试测量领域国际前沿技术的平台，会议主题：“智慧感知、

共享决策、智能控制、个性服务”，以信息化、智能化助推自动化技术发展，研讨面向工业 4.0 和互联网+的新一代智能测控技术，增强国

内学术界、产业界同国际同行间的交流和合作。届时来自世界各地的代表们将欢聚一堂，探讨本领域科技创新、行业发展趋势、热点技

术应用、交流学术成果，增进相互间的了解和沟通。

大会热忱欢迎广大同行踊跃投稿，参会交流，并面向以下 10 个专题征集学术论文。会议论文集将收录在英国工程技术学会 IET Digital

Library。发表在 IET Digital Library 和 IEEE Xplore 两个平台上，EI检索。

在此，我们诚挚地邀请您，踊跃投稿并出席此届会议，与世界各地同仁交流国际化测试和仪器仪表技术的最新成果。

一. 会议组织机构

主办单位： 中国仪器仪表学会

北京信息科技大学

承办单位：中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会

现代测控技术教育部重点实验室

高动态导航技术北京市重点实验室

机电系统测控北京市重点实验室

传感器北京市重点实验室

高端装备智能感知与控制

北京市国际科技合作基地

协办单位：《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、INSTRUMENTATION

二. 征文范围

Ø  基础理论与前沿技术

Ø  信号、图像处理与信息传输

Ø  系统运行状态监测、故障诊断及预测

Ø  智能导航与自主控制

Ø  传感器与物联网技术

Ø  光机电液一体化技术及综合测控技术

Ø  环境监测与保护

Ø  新能源装备安全运行测控方法及系统

Ø  人工智能研究

Ø  其它

三． 会议语言：英语

四． 投稿须知：

1.  请登陆网站使用投稿系统，并通过您的账户随时查看论文状态。

2.  论文请参照 www.istai.org.cn 网站上提供的格式要求排版。

3.  投稿时请提交论文的 MS Word 版本。

4. 作者单位对论文进行保密审查，作者本人应保证来稿的原创性。所有来稿文责自负。

5. 版权声明： 论文一经提交，即表示作者无条件同意会议主办方拥有版权。